Per assicurare le caratteristiche e le prestazioni dei materiali e dei dispositivi realizzati, il Lab. NANO è dotato di un gran numero di strumenti diversi: SEM ZEISS LEO 1530 con microanalisi

• profilometro ottico Taylor Hobson CCD HD 4K
• profilometro a stilo KLA Tencor Alpha Step IQ
• angolo di contatto Dataphysics OCA20
• diffrattometro a raggi PANalytical X’Pert (XRD)
• analisi termogravimetrica e calorimetro differenziale TGA-DSC Netzsch Jupiter 449F3
• spettrofotometro PerkinElmer Lambda 900
• spettrofluorimetro Horiba FluoroLog3
• spettroradiometro Gooch & Housego OL770
• glove box Jacomex per caratterizzazione di OLED in atmosfera inerte
• camera climatica Vötsch per l’invecchiamento accelerato dei dispositivi
• risposta spettrale di dispositivi fotovoltaici
• stazione di misura per dispositivi CASCADE Summit 11000B-M
• sistema a camera di test per rapide variazioni di temperatura Linkam HFS600E-PB4
• sistema di caratterizzazione per semiconduttori Linseis HCS-1
• vari strumenti per caratterizzazione elettrica (picoamperometro, impedenzimetro, source meter I÷V, C÷V, C÷f, oscilloscopio, generatore di segnali, analizzatore vettoriale di reti, ecc.).