Infrastruttura diffusa:
Infrastruttura localizzata
Centri ENEA:
Laboratorio di riferimento:
Laboratory Smart Components and Systems for Sustainable Manufacturing
Per assicurare le caratteristiche e le prestazioni dei materiali e dei dispositivi realizzati, il Lab. NANO è dotato di un gran numero di strumenti diversi: SEM ZEISS LEO 1530 con microanalisi
- profilometro ottico Taylor Hobson CCD HD 4K
- profilometro a stilo KLA Tencor Alpha Step IQ
- angolo di contatto Dataphysics OCA20
- diffrattometro a raggi PANalytical X’Pert (XRD)
- analisi termogravimetrica e calorimetro differenziale TGA-DSC Netzsch Jupiter 449F3
- spettrofotometro PerkinElmer Lambda 900
- spettrofluorimetro Horiba FluoroLog3
- spettroradiometro Gooch & Housego OL770
- glove box Jacomex per caratterizzazione di OLED in atmosfera inerte
- camera climatica Vötsch per l’invecchiamento accelerato dei dispositivi
- risposta spettrale di dispositivi fotovoltaici
- stazione di misura per dispositivi CASCADE Summit 11000B-M
- sistema a camera di test per rapide variazioni di temperatura Linkam HFS600E-PB4
- sistema di caratterizzazione per semiconduttori Linseis HCS-1
- vari strumenti per caratterizzazione elettrica (picoamperometro, impedenzimetro, source meter I÷V, C÷V, C÷f, oscilloscopio, generatore di segnali, analizzatore vettoriale di reti, ecc.).
Contatto:
